- Research Article
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- 10.1002/vipr.201600605
The Multimeter at the Nanoscale
- Jun 01, 2016
- Vakuum in Forschung und Praxis
- Bert Voigtländer + 2 more +2
A multi-tip scanning tunneling microscope (STM) specifically designed for charge transport measurements at the nanoscale is described. Complementing the instrument with a versatile measurement electronics creates a powerful tool to give insight into fundamental transport properties at the nanoscale. We demonstrate the capabilities of the instrument by measuring resistance profiles along freestanding GaAs nanowires, by the acquisition of nanoscale potential maps, and by the identification of an anisotropy in the surface conductivity at a silicon surface. Ein Multimeter auf der Nanoskala Wir prasentieren ein Multispitzen-Rastertunnelmikroskop (STM), das speziell fur Ladungstransportmessungen auf der Nanoskala konzipiert ist. Erganzt um eine vielseitige Messelektronik ergibt sich ein leistungsstarkes Instrument, mit dem wesentliche Erkenntnisse uber grundlegende Transporteigenschaften auf der Nanoskala gewonnen werden konnen. Wir demonstrieren die Leistungsfahigkeit dieses Instruments anhand von Messungen des Widerstandsprofiles entlang von freistehenden GaAs Nanodrahten, durch die Aufnahme von Potential-Karten an Nanostrukturen sowie durch die Messung der Anisotropie der Oberflachenleitfahigkeit an Silizium Oberflachen.
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